martes, 14 de junio de 2016

MICROELECTRONICA Y SEMICONDUCTORES - Análisis de fallos y garantía de calidad (II)

El cobalto 60 (hasta 26.000 curios) se utiliza en irradiadores con objeto de comprobar la capacidad de los CI para resistir la exposición a la radiación gamma en aplicaciones militares y espaciales. En condiciones normales, las exposiciones perso- nales debidas a esta operación son inferiores a 5 milisievert (500 milirem) por año (Baldwin y Stewart 1989). Los controles de esta operación un tanto especializada son similares a los utili- zados en los sistemas de precisión para medir fugas de Kr 85 (p. ej., sala aislada, monitores permanentes de la radiación, vigi- lancia de la exposición personal, etc.).
En el proceso de análisis de fallos se utilizan pequeñas fuentes alfa “con licencia específica” (p. ej., micro y milicurios de americio 241). Estas fuentes se cubren con un capa protectora delgada, denominada ventana, que permite la emisión de partículas alfa desde la fuente para comprobar la capacidad de funcionamiento del circuito integrado cuando es bombardeado por partículas alfa. Lo normal es que las fuentes se sometan a una inspección periódica (p. ej., semestral) en busca de fugas de material radiactivo, que pueden producirse si la ventana protectora sufre daños. Cualquier fuga detectable suele desenca- denar el desmontaje inmediato de la fuente y su devolución al fabricante.

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